Das System ist speziell für den Einsatz in der Forschung bestimmt, für alle Anwendungen in der kristallinen und Dünnschichttechnik. Es funktioniert bei Halbleitern, weichen Materialien, Kunststoffen, Glas, Metall, Papier und anderen Trägern. Das Spektrometer zeichnet sich durch einen sehr geringen Streulichtpegel aus, da in der optischen Bank keine Spiegel oder andere lose Komponenten eingebaut wurden. Man kann damit auch raue Oberflächen oder Multilayer-Beschichtungen vermessen. Aus dem Interferenzmuster der Probe kann man die Schichtdicke errechnen. Das Spektrometer enthält einen Diodendetektor mit einem Messbereich von 200 bis 1700 Nanometern.
Für die Forschung
